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Siancas, M., (2023). Mecanismos de electromigración en interconexiones de película delgada metálica [Universidad Nacional de Piura]. https://repositorio.unp.edu.pe/handle/20.500.12676/4427
Siancas, M., Mecanismos de electromigración en interconexiones de película delgada metálica []. PE: Universidad Nacional de Piura; 2023. https://repositorio.unp.edu.pe/handle/20.500.12676/4427
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Title: Mecanismos de electromigración en interconexiones de película delgada metálica
Authors(s): Siancas Huerta, Manuel Reynaldo
Advisor(s): Valdivia Rodas, José Noé
Keywords: electromigración; película delgada metálica; flujo; estructura; interconexiones
OCDE field: http://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.03.03
Issue Date: 2023
Institution: Universidad Nacional de Piura
Abstract: En el presente trabajo se analizó y describió los diferentes mecanismos de electromigración en interconexiones de película delgada metálica, el estudio se restringió a un enfoque teórico. El flujo atómico de los diversos mecanismos de electromigración en interconexiones de película delgada metálica fue determinado, asimismo se desarrolló una relación entre el tiempo de vida útil de una interconexión metálica de película delgada y la densidad de flujo de electromigración. Se establece que el mecanismo dominante del fenómeno de electromigración es el de difusión debido a la disminución de la energía de activación a través de los límites de grano.
Link to repository: https://repositorio.unp.edu.pe/handle/20.500.12676/4427
Discipline: Física
Grade or title grantor: Universidad Nacional de Piura. Facultad de Ciencias
Grade or title: Licenciado en Física
Juror: Morales Ramírez, Whinsgton; Espinoza Nima, Rudy Guiseppe; Carrasco Porras, Ángel
Register date: 17-May-2023
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