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Título: Aprendizaje de métricas para similaridad de patentes
Otros títulos: Aprendizado Métrico para Similaridade entre Patentes; Metric Learning for Patent Similarity
Asesor(es): Wainer, Jacques
Campo OCDE: http://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.02.01
Fecha de publicación: 2015
Institución: Universidade Estadual de Campinas
Resumen: Realiza el uso de técnicas de aprendizaje de métricas para mejorar las medidas de similaridad textual de patentes.
Disciplina académico-profesional: Ciencias naturales
Institución que otorga el grado o título: Universidade Estadual de Campinas. Instituto de Computação
Grado o título: Maestro en Ciencia de Computación
Fecha de registro: 23-nov-2017; 23-nov-2017

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