Buscar en Google Scholar
Registro completo de metadatos
Wainer, Jacques
Fonseca Arroyo, Pablo Alejandro
2017-11-23T16:47:25Z
2017-11-23T16:47:40Z
2017-11-23T16:47:25Z
2017-11-23T16:47:40Z
2015
Fonseca, P. (2015). Aprendizaje de métricas para similaridad de patentes. Tesis para optar el grado de Maestro. Universidade Estadual de Campinas Instituto de Computação, Brasil. (es_PE)
http://renati.sunedu.gob.pe/handle/sunedu/155242
Realiza el uso de técnicas de aprendizaje de métricas para mejorar las medidas de similaridad textual de patentes. (es_PE)
Consejo Nacional de Desarrollo Científico y Tecnológico - CNPq (es_PE)
Tesis (es_PE)
application/pdf
por (es_PE)
Universidade Estadual de Campinas (es_PE)
info:eu-repo/semantics/openAccess (es_PE)
https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/deed.es
Superintendencia Nacional de Educación Superior Universitaria - SUNEDU (es_PE)
Registro Nacional de Trabajos de Investigación - RENATI (es_PE)
Data Mining (es_PE)
Patentes (es_PE)
Inteligencia artificial (es_PE)
Aprendizaje de métricas para similaridad de patentes (es_PE)
Aprendizado Métrico para Similaridade entre Patentes (es_PE)
Metric Learning for Patent Similarity (es_PE)
info:eu-repo/semantics/masterThesis (es_PE)
Universidade Estadual de Campinas. Instituto de Computação (es_PE)
Ciencias naturales (es_PE)
Maestría (es_PE)
Maestro en Ciencia de Computación (es_PE)
BR
http://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.02.01
http://purl.org/pe-repo/renati/level#maestro ()
http://purl.org/pe-repo/renati/type#tesis ()

Ficheros en este ítem:
Fichero Descripción Tamaño Formato  
Fonseca_Arroyo_Pa.pdfTesis752.64 kBAdobe PDFVista previa
Visualizar/Abrir
Autorizacion.pdf
  Acceso restringido
Formato de autorización146.54 kBAdobe PDFVisualizar/Abrir  Solicita una copia


Este ítem está sujeto a una licencia Creative Commons Licencia Creative Commons Creative Commons