Aprendizaje de métricas para similaridad de patentes

Title: Aprendizaje de métricas para similaridad de patentes

Other Titles: Aprendizado Métrico para Similaridade entre Patentes; Metric Learning for Patent Similarity

Advisor(s): Wainer, Jacques

OCDE field: http://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.02.01

Issue Date: 2015

Institution: Universidade Estadual de Campinas

Abstract: Realiza el uso de técnicas de aprendizaje de métricas para mejorar las medidas de similaridad textual de patentes.

Discipline: Ciencias naturales

Grade or title grantor: Universidade Estadual de Campinas. Instituto de Computação

Grade or title: Maestro en Ciencia de Computación

Register date: 23-Nov-2017; 23-Nov-2017

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