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Título: Influencia de la temperatura de recocido sobre las propiedades ópticas, estructurales y morfológicas de la película delgada de ZNO dopada con CU obtenida por rociado pirolítico
Asesor(es): Aguilar Castro, Wilder Máximo
Fecha de publicación: 2018
Institución: Universidad Nacional de Trujillo
Resumen: En el presente trabajo de tesis se estudió la influencia de la temperatura de recocido sobre las propiedades ópticas, estructurales y morfológicas de las películas delgadas de ZnO dopada con cobre a 3% en volumen, dichas películas fueron sintetizadas sobre substratos de vidrio mediante el método de rociado pirolítico usando como soluciones precursoras el acetato de zinc dihidratado[𝑍𝑛(𝐶𝐻3𝐶𝑂2)2.2𝐻2𝑂] y el cloruro de cobre dihidratado [𝐶𝑙2𝐶𝑢.2𝐻2𝑂] disueltas en etanol. Los patrones de difracción de las películas delgadas de ZnO:Cu 3% Vol. sin recocido y recocidas a 400, 450 y 500 ℃, indican que todas las muestras son poli cristalinas con estructura hexagonal wurtzita, el plano preferente de crecimiento fue el (002), disminuyendo la intensidad de su pico únicamente en la muestra recocida a 400 ℃. El tamaño del cristalito para la muestra sin recocido fue de 25.82 nm y para las muestras recocidas a 400, 450 y 500 ℃ de 18.78, 26.33 y 29.23 nm respectivamente. Las imágenes obtenidas por microscopía de fuerza atómica indican que la rugosidad media (Ra) aumenta con la temperatura de recocido, a excepción de la muestra recocida a 400 ℃, que disminuye. Los análisis en el espectrómetro UV-Vis indican que estas películas tienen alta transmitancia, mayor del 80% y que la absorbancia es mínima. La energía del gap para la muestra sin recocido fue de 3.256 eV y para las muestras recocidas a 400, 450 y 500 ℃ de 3.256, 3.263 y 3.257 eV, respectivamente
Nota: In this thesis work I´ve studied the influence of annealing temperature over to rugosity, transmitance and cristallite size of ZnO:Cu 3 % thin films. The ZnO:Cu 3% thin films was synthetisized over glass substrates by spray pyrolisys technique using zinc acetate dyhidrate[𝑍𝑛(𝐶𝐻3𝐶𝑂2)2.2𝐻2𝑂] and copper chloride dyhidrate[𝐶𝑙2𝐶𝑢.2𝐻2𝑂] as precursor solutions mixed in ethanol. The diffraction patterns of ZnO:Cu 3% thin films both without annealing and annealed at 400, 450 and 500 ℃ indicates that all samples are polycrystalline with wurtzita hexagonal structure. The preferred plane of growth was (002), decreasing the intensity of its peak only in the sample annealed at 400 ℃. The crystallite size for the sample without annealing was 25.82 nm and for the samples annealed at 400, 450 and 500 ℃ of 18.78, 26.33 and 29.23 nm respectively. The images obtained by atomic force microscopy indicate that the average roughness (Ra) increases with annealing temperature except for the sample annealed at 400 ℃ which decreases. Analyzes in the UV-Vis indicate that these films have high transmittance greater than 80% and that the absorbance is minimal. The band gap for sample without annealing was 3.256 eV and for the samples annealed at 400, 450 and 500 ℃ of 3.256, 3.263 and 3.257 eV respectively
Disciplina académico-profesional: Física
Institución que otorga el grado o título: Universidad Nacional de Trujillo.Facultad de Ciencias Físicas y Matemáticas
Grado o título: Licenciado en Física
Fecha de registro:  1



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