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Título: Detección y diagnóstico de fallas en sistemas integrados de Caja a Pin Pad, para restablecer y mejorar el proceso de ventas con tarjeta Chip en comercios afiliados a una Empresa Procesadora de Pagos en el distrito de Miraflores, Lima Perú
Asesor(es): Rodriguez Vilcarromero, Carlos Daniel
Campo OCDE: https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#2.02.01
Fecha de publicación: 2024
Institución: Universidad Tecnológica del Perú
Resumen: Laborando en una empresa procesadora de medios de Pago, en el distrito de Miraflores en Lima Perú, en el área de Laboratorio de Canales Físicos, donde nos encargamos de la revisión de casos de excepción y mejora, ante los reportes de usuario, sobre el funcionamiento del dispositivo, llamado Pin Par o TPV (Terminal de Punto de Venta), que son dispositivos electrónicos con software transaccional para pagos con tarjeta de Crédito o Débito y hardware con módulo de lectura de tarjetas chip con tipo contacto o sin contacto, certificados con las Marcas (MasterCard, Visa, Amex, Diners), que garantizan el uso seguro, de las normativas establecidas por estas, para que los Bancos Emisores puedan Aprobar o Denegar los requerimientos a las Ventas con tarjeta chip. Ante las incidencias reportadas por los establecimientos que fueron afiliados a la procesadora para integraciones Caja Pin pad, que observaron interrupción en las ventas al uso de este sistema, se decidió subsanar estas incidencias a través de un flujo de actividades de detección diagnóstico de fallos, en los que incluyen los archivos de auditoria LOGs del sistema de integración, para poder analizar y comparar normas y/o regulaciones relacionadas con la gestión de logs y el diseño de un modelo de actividades en los sistemas comprometidos, con el objetivo de optimizar, corregir, mantener e incrementar las ventas en el sistema integrado, dando continuidad al negocio.
Disciplina académico-profesional: Ingeniería Electrónica
Institución que otorga el grado o título: Universidad Tecnológica del Perú. Facultad de Ingeniería
Grado o título: Ingeniero Electrónico
Jurado: Nolasco Espinoza, Oscar Vidal; Guardia Ramírez, Eduardo Manuel; Quiñones Nieto, Yamil Alexander
Fecha de registro: 9-sep-2024



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