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Title: Espesor de la tabla ósea en incisivos inferiores en clase I y II en tomografía computarizada Cone beam
Advisor(s): Mendoza Murillo, Paul Orestes
OCDE field: https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#3.02.14
Issue Date: 2023
Institution: Universidad Nacional Federico Villarreal
Abstract: La siguiente investigación tuvo como objetivo determinar y comparar el espesor de la tabla ósea vestibular y lingual en incisivos inferiores en pacientes clase I y II mediante Tomografía Computarizada Cone Beam que asistieron al Instituto de Diagnóstico Máxilofacial IDM. Como método se analizó una muestra no probabilística por conveniencia de 60 Tomografías Computarizadas Cone Beam, realizando las mediciones para la determinación de la maloclusión esquelética clase I y II (Cefalometría de Steiner) y en el plano sagital se dividió la longitud de la raíz en tres partes iguales partiendo de la unión amelocementaria hasta el vértice radicular utilizando programa la herramienta regla digital. Los datos se analizaron mediante las pruebas t de Student y U de Mann-Whitney con un nivel de significancia del 5%. Como resultado se obtuvo que el mayor espesor de la tabla ósea vestibular en clase I fue de 1.59 mm y en clase II fue de 1.75 mm; mientras que por lingual el mayor espesor en clase I fue de 2.37 mm y en clase II fue 2.08 mm. Y el menor espesor de la tabla ósea vestibular en clase I fue de 0.45 mm y en clase II fue de 0.33 mm; mientras que por lingual el menor espesor en clase I fue de 0.62 mm y en clase II de 0.45 mm. Se concluye que los mayores espesores promedio de la tabla ósea vestibular se encuentran en la maloclusión esquelética clase II, mientras que por lingual el mayor espesor fue en clase I. Por otro lado, los menores espesores promedio de la tabla ósea vestibular y lingual se encuentran en la maloclusión clase II.
Discipline: Odontología
Grade or title grantor: Universidad Nacional Federico Villarreal. Escuela Universitaria de Posgrado
Grade or title: Doctor en Odontología
Juror: Mendoza Lupuche, Román; Cayo Rojas, César Félix; Alvitez Temoche, Daniel Augusto
Register date: 18-Dec-2023



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