Bibliographic citations
Vasquez, F., Rodriguez, A. (2018). Efecto del porcentaje de cobalto y temperatura de recocido en películas delgadas semiconductoras de óxido de níquel sobre el tamaño de los cristales y la conductividad eléctrica utilizando la técnica drx y el método de cuatro puntas. [Tesis, Universidad Nacional de Trujillo]. https://hdl.handle.net/20.500.14414/10625
Vasquez, F., Rodriguez, A. Efecto del porcentaje de cobalto y temperatura de recocido en películas delgadas semiconductoras de óxido de níquel sobre el tamaño de los cristales y la conductividad eléctrica utilizando la técnica drx y el método de cuatro puntas. [Tesis]. : Universidad Nacional de Trujillo; 2018. https://hdl.handle.net/20.500.14414/10625
@misc{sunedu/3691743,
title = "Efecto del porcentaje de cobalto y temperatura de recocido en películas delgadas semiconductoras de óxido de níquel sobre el tamaño de los cristales y la conductividad eléctrica utilizando la técnica drx y el método de cuatro puntas.",
author = "Rodriguez Rios, Ander Gloyer",
publisher = "Universidad Nacional de Trujillo",
year = "2018"
}
This item is licensed under a Creative Commons License