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Title: Estudio mediante microscopia de fuerza atómica conductivo de capas delgadas de GaSb dopado con vanadio
Advisor(s): Bustamante Domínguez, Ángel Guillermo
OCDE field: https://purl.org/pe-repo/ocde/ford#1.03.01
Issue Date: 2020
Institution: Universidad Nacional Mayor de San Marcos
Abstract: Estudia la distribución no homogénea de dopante formando microprecipitados en la muestra, así como también se investigó las propiedades electrónicas en regiones libres y en esta distribución no homogénea de dopante, utilizando para ello el Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) en modo conductivo. Uno de los objetivos fundamentales de este trabajo es determinar los microprecipitados a partir de sus propiedades electrónicas, para ello se obtiene, en primer término, las curvas corrientes vs voltaje (I vs V), a partir de las cuales se determina el comportamiento electrónico tanto de los microprecipitados como de la matriz. Con los resultados obtenidos, se determina a través de la imagen de corriente, si los cambios que se observan en determinadas regiones son debidos a la distribución homogénea de dopante o a microprecipitados.
Discipline: Física con mención en Física del Estado Sólido
Grade or title grantor: Universidad Nacional Mayor de San Marcos. Facultad de Ciencias Físicas. Unidad de Posgrado
Grade or title: Magíster en Física con mención en Física del Estado Sólido
Juror: Flores Santibañez, Jesús Walter; Rivera Riofano, Pablo Héctor; Mejía Santillán, Mirian Esther
Register date: 19-Nov-2020; 19-Nov-2020



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