Título: Estudio de parámetros estadísticos para la detección de campos reverberantes uniformes en la formación de imágenes de elastografía
Asesor(es): Romero Gutiérrez, Stefano Enrique; Castañeda Aphan, Benjamín
Campo OCDE: http://purl.org/pe-repo/ocde/ford#2.02.01
Fecha de publicación: 10-feb-2021
Institución: Pontificia Universidad Católica del Perú
Resumen: La elastografía abarca un grupo de técnicas no invasivas para la caracterización de tejidos como complemento al diagnóstico médico de diversas patologías. Una de estas técnicas es la Elastografía por Campo Reverberante (R-SWE, por sus siglas en inglés) que genera un campo reverberante acústico en el tejido de interés mediante múltiples fuentes de vibración, asumiendo una distribución isotrópica de ondas planas para facilitar el cálculo de la velocidad de onda de corte (SWS), la cual es proporcional a la elasticidad del medio. Su factibilidad ha sido validada para la caracterización de mamas, hígado, riñones, musculo y pie; sin embargo, el cálculo de la SWS ha sido comprobado mientras se verifique la uniformidad del campo. El modelo actual se basa en la umbralización del coeficiente de determinación R2 producto del ajuste de curva a la autocorrelación de la velocidad de partículas, no obstante, este es insuficiente como determinador y no analiza propiamente el concepto de uniformidad.
En el presente trabajo, se presenta el estudio del fenómeno de uniformidad en un campo reverberante, mediante la extracción y análisis de estimadores estadísticos usados en campos reverberantes de ondas electromagnéticas con sus equivalencias en ondas mecánicas acústicas. Se propone un modelo identificación de campos reverberantes uniformes para la asistencia de la R-SWE, basado en clasificadores automáticos (Regresión Logística, LDA y SVM).
Disciplina académico-profesional: Ciencias con mención en Ingeniería Electrónica
Institución que otorga el grado o título: Pontificia Universidad Católica del Perú. Facultad de Ciencias e Ingeniería
Grado o título: Bachiller en Ciencias con mención en Ingeniería Electrónica
Fecha de registro: 10-feb-2021